
Steigende Anforderungen an die Ausfallsicherheit von Leistungselektronik bei gleichzeitig wachsenden Zuverlässigkeitsrisiken aufgrund der hohen Komplexität der Bauelemente machen hochgenaue Lebensdauermodelle und verbesserte Zuverlässigkeitsmethoden für die Entwicklung dieser Leistungselektronikkomponenten notwendig. Dr. Alexander Otto vom Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS hat erfolgreich Methoden und Modelle für diese Anforderungen entwickelt und wurde nun […]