E-LIT: Thermografieprüfstand wird noch effizienter

Mit dem modularen automatisierten Prüfstand E-LIT von InfraTec können Elektronik- und Halbleiterbauelementen berührungslos und zerstörungsfrei geprüft werden. Unter Nutzung der sogenannten Lock-In-Thermografie, bei der die Bauteile elektrisch angeregt werden, lassen sich mit E-LIT thermische Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich erkennen und so Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-Defekte sowie Transistor- und Diodenfehler […]

Online-Event: Thermografie-Anwenderkonferenz „Forschung & Entwicklung“

Unsere kostenfreie Thermografie-Anwenderkonferenz am 05. November 2026 bietet Raum für den fachlichen Austausch unter Anwendern aus Wissenschaft und Industrie, insbesondere zu Einsatzmöglichkeiten der Thermografie für anspruchsvollen Aufgaben in Forschung und Entwicklung. Online-Event “Thermografie-Anwenderkonferenz – Forschung & Entwicklung” Datum: Donnerstag, 05. November 2026 Uhrzeit: 10:00 – 15:00 Uhr MESZ Sprache: Deutsch […]

Lock-In-Thermografie für Elektronik- und Halbleitermodulprüfung

In unserem englischsprachigen, kostenfreien InfraTec Online-Event „Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits“ erfahren Sie mehr über die Lock-In-Thermografie als bildgebendes Verfahren zur berührungslosen und zerstörungsfreien Prüfung in der Elektronik und Elektrotechnik. Online-Event (Sprache: Englisch) “Infrared Lock-in Thermography for Inspection of Electronics and Integrated Circuits” Datum: Mittwoch, […]

Detektor gezielt an Messaufgabe anpassen

Das IR-Fenster eines pyroelektrischen Detektors schützt die inneren Komponenten wie den IR-empfindlichen Chip und die Elektronik vor Umwelteinflüssen. Für die infrarote Strahlung bieten IR-Fenster einen weiten Durchlassbereich, z. B. oberhalb einer Grenzwellenlänge (Long Wave Pass, LWP) oder zwischen einer unteren und einer oberen Grenzwellenlänge (Wide Bandpass, WBP). Wird der Durchlassbereich […]

Online-Event: Spectral Thermography – Basics and Applications

In unserem kostenfreien Online-Event „Spectral Thermography – Basics and Application“, stellen wir Ihnen die verschiedenen Wellenlängenbereiche vor, in denen die Infrarot-Thermografie die präzise Temperaturmessung von Objekten, die aus den unterschiedlichsten Materialien bestehen können, ermöglicht. Wir betrachten das nahe Infrarot (SWIR), das mittlere Infrarot (MWIR) und das langwellige Infrarot (LWIR). Weiterhin […]

Online-Event: Thermografie-Anwenderkonferenz „Forschung & Entwicklung“

Unsere kostenfreie Thermografie-Anwenderkonferenz am 11. März 2026 bietet Raum für den fachlichen Austausch unter Anwendern aus Wissenschaft und Industrie, insbesondere zu Einsatzmöglichkeiten der Thermografie für anspruchsvollen Aufgaben in Forschung und Entwicklung. Online-Event: “Thermografie-Anwenderkonferenz – Forschung & Entwicklung” Datum: Mittwoch, 17. Juni 2026 Uhrzeit: 10:00 – 15:00 Uhr MESZ Sprache: Deutsch […]

Messung der Wärmeverformung von elektronischen Leiterplatten

Moderne Leiterplatten und Elektronikbauteile erlauben immer größere Datenübertragungsvolumina und schnellere Verarbeitungsgeschwindigkeiten. In der Folge steigen häufig Stromverbrauch und Wärmeentwicklung an, was häufig auch eine Verformung des Trägers (der Montageplatte) zur Folge hat. Hinzu kommt: Viele elektronische Geräte, in denen die Bauteile eingesetzt werden, sind wechselnden Umgebungsbedingungen ausgesetzt, was zu einem […]

Online-Event: Micro-Thermography – Contactless Temperature Measurement in the Micrometer Scale

In unserem Online-Event „Micro-Thermography – Contactless Temperature Measurement in the Micrometer Scale“ erfahren Sie alles Wissenswerte zu den Grundlagen und Möglichkeiten der Mikrothermografie. Unsere Experten geben Ihnen Tipps, wie Sie die Methode effizient für Ihre Fragestellungen einsetzen können. Online-Event “Micro-Thermography: Contactless Temperature Measurement in the Micrometer Scale” Datum: Mittwoch, 3. […]

Online-Event (Sprache: Englisch) “Thermographic Analysis of Mechanical Processes”

In unserem kostenlosen InfraTec-Online-Event „Thermografische Analyse mechanischer Prozesse” erfahren Sie mehr über den Einsatz der Thermografie zur Prozesssteuerung und zur Untersuchung von Reibungsprozessen. Unsere Experten erklären Ihnen, wie Sie die richtige IR-Kamera für Ihre spezifische Aufgabe auswählen und welche Funktionen der InfraTec-IR-Kameras für Ihre Anwendung unverzichtbar sind. Online-Event (Sprache: Englisch) […]

Thermografische Fehlerlokalisierung an Chips und Leistungsmodulen

STMicroelectronics fertigt als europäischer Hersteller an weltweit 14 Standorten ein breites Sortiment von Halbleiterbauelementen und Mikrochips. Zum Einsatz kommen die Produkte vor allem in der Automobilindustrie und für das Internet der Dinge (IoT). Das Unternehmen führt in Shenzhen (China) und in Calamba (Philippinen) die zerstörungsfreie Fehleranalyse an Chips, diskreten Bauelementen, […]