Mit dem modularen automatisierten Prüfstand E-LIT von InfraTec können Elektronik- und Halbleiterbauelementen berührungslos und zerstörungsfrei geprüft werden. Unter Nutzung der sogenannten Lock-In-Thermografie, bei der die Bauteile elektrisch angeregt werden, lassen sich mit E-LIT thermische Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich erkennen und so Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-Defekte sowie Transistor- und Diodenfehler […]
E-LIT: Thermografieprüfstand wird noch effizienter
On By Firma InfraTec GmbH Infrarotsensorik und Messtechnik Posted in AllgemeinTagged , AuflösungssteigerungAutomatisierungsintegrationberührungslose InspektionBildfeldstabilitätelektronikprüfungFehlerlokalisierungfernbedienungHalbleiterbauelementenLock-In-ThermografieminiaturisierungObjektivrevolverSensoranbindungThermografieprüfstandVerzeichnungsarmutZerstörungsfreie Analyse









